计算过程能力Cpk数值，需要收集数据：USL规格上限、LSL规格下限、（）、σ为过程标准差、极差R。

[单选题]计算过程能力指数应该（）收集数据。A . 在生产过程无偶然因素影响的情况下B . 在统计控制状态下C . 在顾客满意的情况下D . 随机

[填空题] 管制图中英文字母符号代表的规格上限为（），规格下限为LSL，控制上限为UCL，控制下限为LCL。

[单选题]某六西格玛项目团队收集数据后使用Minitab分析过程能力Cpk值为1.39，其中一个组员也抄录了原始数据，但未按照收集顺序进行记录，用Minitab进行分析后Cpk值为1.51，作为黑带，应该如何解释？（）A . 因为数据顺序变化导致平均值变化，所以Cpk值有变化B . 这是软件分析的误差导致，可以不必在意C . 因为数据的变化导致规格变化，所以Cpk值变化D . 因为数据的变化导致标准差变化，所以Cpk值变化

[判断题] 某过程USL=3、LSL=9、σ=1，则过程能力指数Cp=2。A . 正确B . 错误

[判断题] 某过程USL=3、LSL=9、σ=1，则过程能力指数Cp=2A . 正确B . 错误

[判断题]某过程USL=3、LSL=9、o=1,则过程能力指数Cp=2。A.对B.错

[单选题]参数Set Head控制规格UAAR-LAAR=60刀，则该参数USL-LSL至少为（）。A . 100刀B . 200刀C . 300刀

[单选题]设某质量特性X～N(μ，σ2)，USL与LSL为它的上、下规格限，不合格品率P=PL+PU，其中( )。

[单选题]根源性收集数据需要（）。A . 人工参与B . 由人与机器结合收集C . 由人工收集D . 不由人工参与

[多选题]设某质量特性X～N（μ，σ2），USL与LSL为它的上、下规格限，不合格品率p=pL+pU，其中（　　）。A.B.C.D.E.