检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。

[判断题] 收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。A . 正确B . 错误

[判断题] 双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。A . 正确B . 错误

[判断题] 双晶探头用于探测工件近表面缺陷。A . 正确B . 错误

[判断题] 带有机玻璃斜楔探头只能用于斜射法探伤。A . 正确B . 错误

[单选题]组合双晶直探头的压电晶片前装有（）A .阻尼块B .匹配线圈C .延迟块D .保护膜

[填空题] 探头型式有直探头、（）、表面波探头、双晶探头等。

[判断题] 探头的种类有直探头、斜探头、表面波探头、双晶探头等。A . 正确B . 错误

[填空题] 超声波探伤，检验近表面缺陷，最有效的探头形式应是（）探头。

[单选题]双晶探头用于探测工件（）缺陷。A .近表面B .表面C .内部D .平面形

[问答题] 斜探头为什么用有机玻璃作斜楔？