A . 正确
B . 错误
[单选题]双晶探头用于探测工件()缺陷。A .近表面B .表面C .内部D .平面形
[判断题] 表面波探头用于探测工件表面缺陷。A . 正确B . 错误
[单选题]表面波探头用于探测工件()缺陷。A .近表面B .表面C .内部D .平面形
[问答题] 在超声波探伤中,双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷?
[判断题] 双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于近表面缺陷的探测。A . 正确B . 错误
[填空题] 表面波探头用于探测工件()。
[判断题] 收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。A . 正确B . 错误
[单选题]用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时,探头最不利的探测位置是()A .尽可能靠近侧壁;B .离侧壁10mm;C .离侧壁一个探头直径的距离处;D .离侧壁二个探头直径的距离处。
[判断题] 检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块,减小了纵波单晶探头存在的阻塞。A . 正确B . 错误
[单选题]()可用于探测某些非铁磁材料表面和近表面缺陷。A . 荧光法B . 水压试验C . 气压实验