关于根分叉病变的描述不正确的是

A．下颌磨牙的根分叉病变较易探查

B．上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入

C．上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度

D．X线片的表现常比实际病变轻

E．发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙

[单选题]关于根分叉病变的描述不正确的是A．可用普通的弯探针探查B．检查上颌磨牙时，先探查颊侧中央处的根分叉区C．检查下颌磨牙时，从颊侧和舌侧中央处分别探查根分叉区D．X线片的表现常比实际病变轻E．发生根分叉病变的患牙是松动牙

[单选题]根分叉病变最好发的牙位是A．上颌第二磨牙B．下颌第二磨牙C．上颌第一磨牙D．下颌第一磨牙E．上颌前磨牙

[单选题]关于根分叉病变的描述不正确的是（）A.下颌磨牙的根分叉病变较易探查B.上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入C.上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度

[单选题]关于根分叉病变的描述不正确的是（）A . 下颌磨牙的根分叉病变较易探查B . 上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入C . 上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度D . X线片的表现常比实际病变轻E . 发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙

[单选题,A1型题] 关于根分叉病变的描述不正确的是（）。A . 下颌磨牙的根分叉病变较易探查B . 上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入C . 上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度D . X线片的表现常比实际病变轻E . 发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙

[单选题]关于根分叉病变的描述不正确的是( )A.下颌磨牙的根分叉病变较易探查B.上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入C.上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ

[单选题,A2型题,A1/A2型题] 关于根分叉病变的分度，哪项描述不正确（）A .1度：可及分叉外形，X线片示：无异常表现B .2度：只有一侧可探入分叉区，X线片示：骨密度略降低C .2度：只有一侧或双侧可探入分叉区，但不能穿通，X线片示：骨密度略降低D . D.3度：探针能通过分叉区，但有牙龈覆盖，X线片示：骨密度降低区E .4度：探针能通过分叉区，且无牙龈覆盖，X线片示：骨密度降低区

[单选题]下颌第一磨牙Ⅱ度根分叉病变，龈缘足够高（）。A.引导性组织再生术+植骨术B.改良Widman翻瓣术C.根向复位瓣术D.截根术E.牙龈切除术下列情况采取

[单选题,A2型题,A1/A2型题] 关于根分叉病变的分度，哪、项描述不正确（）A . 1度：可及分叉外形，X线片示：无异常表现B . 2度：只有一侧可探入分叉区X线片示：骨密度略降低C . 2度：只有一侧或双侧可探入分叉区，但不能穿通，X线片示：骨密度略降低D . 3度：探针能通过分叉区，但有牙龈覆盖，X线片示：骨密度降低区E . 4度：探针能通过分叉区，且无牙龈覆盖，X线片示：骨密度降低区

[单选题]对Ⅲ度根分叉病变描述不正确的是（　　）。A.牙龈覆盖根分叉区B.病变波及全部根分叉C.X线片见骨质消失呈透射区D.根问牙槽骨完全吸收E.探针可进入根分