一般情况下，电子元器件的寿命试验属于（ ）。

A．非破坏性检验

B．破坏性检验

C．全数检验

D．感官检验

[单选题]电子元器件的寿命试验属于( )。A．全数检验B．破坏性试验C．最终检验D．流动检验

[单选题]电子元器件的寿命试验属于（　　）。A.全数检验B.破坏性试验C.最终检验D.流动检验

[判断题] 一般情况下的筛选，主要是查对元器件的型号、规格，并不进行外观检查。A . 正确B . 错误

[判断题] 对于电子元器件来说，寿命结束，叫做失效。（）A . 正确B . 错误

[单选题]寿命周期成本一般情况下()。A . C1(研制、生产费用)与使用费用C2就呈正比B . C1(研制、生产费用)越高，即功能满足程度越好，使用费用C2就越大C . C1(研制、生产费用)越高，即功能满足程度越好，使用费用C2就越少D . C1(研制、生产费用)越低，即功能满足程度越差，使用费用C2就越低

[单选题]在电子元器件中，常在一个预应力下进行元器件的筛选试验，淘汰那些可靠性经不起考验的元器件。其采用的可靠性技术是（）。A.冗余技术B.预应力筛选C.应力一

[单选题]一般情况下，得到电子的物质显示（）。A . 负电性B . 正电性C . 负电D . 正电

[单选题]一般情况下，对网络数字信号进行拓补扩展再分配的电子器件是（）。A .分配器B .网卡C .集线器（HUB）D .交换机

[单选题]片式元器件的装接一般是（）。A . 直接焊接B . 先粘再焊C . 粘接D . 紧固件紧固

[填空题] 片式元器件的装插一般是（）。