用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且无工件界面的影响），它们的当量（）。

[单选题]斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行，但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为（）。A . 面积大于声束截面的当量一定大B . 面积小于声束截面的当量反而大C . 当量忽大忽小D . 以上都可能

[填空题] 斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行，但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为面积小于声束截面的当量反而（）。

[单选题]用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率（）。A .愈高愈好B .愈低愈好C .不太高D .较寻常时取高值

[单选题]用单探头发现与声束取向不良的缺陷，应该采用的频率是（）。A . 越高越好B . 越低越好C . 适当偏低的频率D . 较平常为高的频率

[判断题] 用单探头探伤时，对于与声束取向不良的缺陷，采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。A . 正确B . 错误

[判断题] 选择探头K值时，应考虑缺陷的取向，应尽可能使声束与缺陷垂直A . 正确B . 错误

[判断题] 声束与缺陷主反射面所成的角叫做缺陷取向。A . 正确B . 错误

[单选题]在探测不与声束垂直且表面平整的平面状小缺陷时，随着缺陷面积的增大，则反射波幅（）。A .增高B .降低C .不变D .相等

[判断题] 表面波探头用于探测工件表面缺陷。A . 正确B . 错误

[判断题] 双晶探头用于探测工件近表面缺陷。A . 正确B . 错误