[单选题,A1型题]

关于根分叉病变手术治疗不正确的是()。

A . 截根术适合上颌磨牙颊根病变

B . 分根术适合下颌磨牙近远中根均有一定支持组织时

C . 牙半切术适合某一根病变严重而另外根支持组织良好时

D . 以上手术均应患牙配合完善根管治疗及调

E . 可以与基础治疗同期进行

参考答案与解析:

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关于根分叉病变手术治疗不正确的是()

[单选题]关于根分叉病变手术治疗不正确的是()A . 截根术适合上颌磨牙颊根病变B . 分根术适合下颌磨牙近远中根均有一定支持组织时C . 牙半切术适合某一根病变严重而另外根支持组织良好时D . 以上手术均应患牙配合完善根管治疗及调E . 可以与基础治疗同期进行

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  • 关于根分叉病变的描述不正确的是()

    [单选题]关于根分叉病变的描述不正确的是()A.下颌磨牙的根分叉病变较易探查B.上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入C.上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度

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  • 关于根分叉病变的描述不正确的是()

    [单选题]关于根分叉病变的描述不正确的是()A . 下颌磨牙的根分叉病变较易探查B . 上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入C . 上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度D . X线片的表现常比实际病变轻E . 发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙

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  • 关于根分叉病变的描述不正确的是()。

    [单选题,A1型题] 关于根分叉病变的描述不正确的是()。A . 下颌磨牙的根分叉病变较易探查B . 上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入C . 上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度D . X线片的表现常比实际病变轻E . 发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙

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  • 关于根分叉病变的描述不正确的是( )

    [单选题]关于根分叉病变的描述不正确的是( )A.下颌磨牙的根分叉病变较易探查B.上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入C.上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ

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  • 关于根分叉病变的分度,哪项描述不正确()

    [单选题,A2型题,A1/A2型题] 关于根分叉病变的分度,哪项描述不正确()A .1度:可及分叉外形,X线片示:无异常表现B .2度:只有一侧可探入分叉区,X线片示:骨密度略降低C .2度:只有一侧或双侧可探入分叉区,但不能穿通,X线片示:骨密度略降低D . D.3度:探针能通过分叉区,但有牙龈覆盖,X线片示:骨密度降低区E .4度:探针能通过分叉区,且无牙龈覆盖,X线片示:骨密度降低区

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  • 关于根分叉病变的分度,哪、项描述不正确()

    [单选题,A2型题,A1/A2型题] 关于根分叉病变的分度,哪、项描述不正确()A . 1度:可及分叉外形,X线片示:无异常表现B . 2度:只有一侧可探入分叉区X线片示:骨密度略降低C . 2度:只有一侧或双侧可探入分叉区,但不能穿通,X线片示:骨密度略降低D . 3度:探针能通过分叉区,但有牙龈覆盖,X线片示:骨密度降低区E . 4度:探针能通过分叉区,且无牙龈覆盖,X线片示:骨密度降低区

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  • 关于根分叉病变的描述不正确的是A、下颌磨牙的根分叉病变较易探查B、上颌磨牙邻面根

    [单选题]关于根分叉病变的描述不正确的是A.下颌磨牙的根分叉病变较易探查B.上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入C.上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度D.X线片的表现常比实际病变轻E.发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙

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  • 下列根分叉病变的病因不正确的是()

    [单选题]下列根分叉病变的病因不正确的是()A . 菌斑微生物是主要病因B . 创伤是促进因素C . 根柱长的比根柱短的牙易发D . 髓底副根管是易发因素E . 牙颈部釉突是易发因素

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  • 下列根分叉病变的病因不正确的是()。

    [单选题,A1型题] 下列根分叉病变的病因不正确的是()。A . 菌斑微生物是主要病因B . 创伤是促进因素C . 根柱长的比根柱短的牙易发D . 髓底副根管是易发因素E . 牙颈部釉突是易发因素

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